자동화 반도체 테스트 및 측정 장비 제조업체인 Advantest가 전력 반도체에 필수적인 와이드 밴드갭(WBG) 소자의 다이 레벨 테스트 수율을 극대화하도록 설계된 통합 테스트 셀을 출시했다. Advantest Known Good Die(KGD) 테스트 셀은 기존의 CREA MT 시리즈 전력 소자 테스터와 새로운 HA1100 다이 프로버를 결합한 것이다.
Advantest KGD 테스트 셀은 CREA의 독점적인 프로브 카드 인터페이스(PCI) 기술이 손상 위험을 제거할 수 있기 때문에 고객의 제조 비용을 줄이는 데 도움이 된다. 손상이 발생하면 Advantest가 테스트 셀을 사용하여 손상 여부를 조사해 가동 중지 시간을 최소화할 수 있다.
CREA MT 시리즈 테스트 시스템용 HA1100 다이 프로버는 통과한(KGD) 다이만 사용하여 전원 모듈에서 다이를 조립할 수 있으므로 실패한 다이가 모듈로 들어가지 않도록 한다. 이를 통해 모듈 테스트에서 수율 손실을 방지하여 최종 다중 다이 조립 전원 모듈의 손실을 줄여준다.
이 KGD 테스트 셀은 CREA MT 테스터와 Advantest의 입증된 핸들링 기술을 결합한 최초의 솔루션으로 다이 레벨에서 동적 테스트를 가능하게 한다. CREA PCI 기술은 전력/에너지를 조절하여 실패한 다이를 테스트하는 동안 프로브 카드, 척 및 장치가 손상되지 않도록 보호한다.
HA1100 다이 프로버는 2025년 2분기에 글로벌 시장에 출시될 예정된다.
