매우 빠른 스위칭 속도로 동작하는 GaN 트랜지스터를 측정하기 위해서는
탁월한 측정 기술뿐만 아니라 고속 파형의 중요한 세부 사항을 포착할 수 있는
뛰어난 측정 기법이 필요하다.
이 애플리케이션 노트는 고성능 GaN 트랜지스터를 정확하게
평가할 수 있는 측정 기법과 사용자의 요구사항에 부합하는 측정 장비 활용 방안에 중점을
두고 있다. 또한 이 애플리케이션 노트는 비접지 레퍼런스 파형(Non-Ground-Referenced
Waveforms)에 사용할 수 있는 고대역폭 차동 프로브도 평가한다.
[제공. EPC]
